对比实测：同样是开口罗氏线圈，PEM开合重复精度甩开同行多少

开口开合重复精度是开口罗氏线圈最核心的隐形指标：每一次打开、闭合线圈，参数是否保持一致，直接决定多次复测数据是否有效。市面上低端开口线圈开合一次，误差就明显变大，复测数据没有参考价值。本次公开横向实测数据，直观展示PEM真实差距。

实测方案：统一环境、统一线缆电流，分别对国产普通开口罗氏线圈、PEM开口线圈，连续开合50次，每闭合一次记录一次幅值误差与相位误差，对比数据波动幅度。

实测结果：普通国产开口线圈，初次闭合误差达到0.35%，50次开合后误差飙升至1.82%，缝隙磁路持续偏移，数据失效；PEM线圈依靠精密磁路补偿接缝，50次反复开合后，误差始终稳定在0.12%以内，几乎无数据波动。

工程现场需要频繁开合拆装线圈做多点抽检、故障复测，重复精度差的线圈每次测试数据都不一样，无法对比故障前后电流变化。PEM罗氏线圈优异的开合一致性，保障多次拆装复测数据可对比、可溯源，适配现场反复拆装测试需求。