双脉冲实验是功率半导体器件研发、选型、标定的核心测试项目,主要用于测试IGBT、MOS管、SiC器件的开通延迟、关断延迟、反向恢复、开关振荡、过冲电压电流等关键参数,测试精度直接决定器件应用的安全性与稳定性。
普通电流探头带宽不足、瞬态响应慢、存在幅值衰减,双脉冲实验中无法精准捕捉器件开通瞬间的电流过冲、反向恢复尖峰,波形前沿钝化、细节丢失,导致器件参数标定偏差,出现选型匹配失误、器件工作应力超标等隐患。
PEM罗氏线圈专为双脉冲实验优化,超快瞬态响应、无波形畸变、无尖峰丢失,搭配示波器可完整还原双脉冲实验的精细波形,精准抓取电流上升沿、反向恢复尖峰、开关振荡细节,参数测试精度对标行业标准实验要求。
可精准标定各类功率器件的动态参数,验证器件开关特性与安全工作区,为器件选型、驱动电路设计、吸收电路参数匹配提供精准数据支撑,是半导体器件研发、功率电路设计的测试组合。


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